（1）在外延片的均勻度得到控制以前，研發(fā)快速低成本芯片分選工藝和設(shè)備。

（2）隨著W級功率LED技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)LED產(chǎn)品參數(shù)檢測標(biāo)準(zhǔn)及測試方法已不能滿足照明應(yīng)用的需要，須開發(fā)全新的測試標(biāo)準(zhǔn)和方法，包含更多的與照明相關(guān)的光學(xué)內(nèi)容。

（3）在LED系統(tǒng)壽命測試中，研發(fā)LED系統(tǒng)的長期性能和壽命快速測定評價技術(shù)。

（4）照明用LED是處于大電流驅(qū)動下工作，這就對其提出更高的可靠性要求。傳統(tǒng)LED的篩選方式不合適照明用大功率LED,必須開發(fā)新的篩選試驗辦法，剔除早期失效品，保證產(chǎn)品的可靠性。

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